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高分辨扫描探针(原子力)显微镜(ZX_2017)

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委托分析送样要求

Scanning Probe Microscopy / Atomic Force Microscopy

仪器型号MultiMode 8

仪器厂商德国布鲁克(Bruker

放置地点:2号楼228室

技术咨询:涂勇辉(025-86881520)蒋倩(025-86881167)

技术指标:模式:智能、接触、轻敲、相位、横向力、力曲线、磁力、电势、峰值力轻敲;OMV-UNIV光学辅助系统:450倍放大,分辨率1.6 μm,彩色CCD摄像头;扫描管:(1) XY: 10 μm ×10 μm, Z : 2.5 μm; (2) XY: 40 μm ×40 μm, Z : 20μm闭环;(3)XY: 125 μm ×125 μm, Z : 5 μm

检测项目:在空气或液体中,扫描样品表面的二/三维形貌及测量(粗糙度、高度等),探测固相界面间的作用力(吸附力、模量等)。

主要应用:扫描土壤、矿物、岩石、有机物、高分子、生物体、金属等样品表面的二/三维形貌及测量(粗糙度、高度),探测固相界面间的作用力(吸附力、模量等)。

仪器原理:SPM是一类仪器的统称,是以STMAFM 为代表的扫描力显微镜。当探针和样品接近到一定程度时,如果有一个足够灵敏且随探针-样品距离单调变化的物理量,那么该物理量可以用于反馈系统,通过扫描管的移动来控制探针-样品间的距离,进而描绘材料的表面性质。如PeakForce Tapping AFM, 采用2kHz的频率在整个表面做力曲线,利用峰值力做反馈,通过扫描管的移动来保持探针和样品间的峰值力恒定,从而反映出表面形貌。SPM主要部件:探针、扫描管、信号处理以及记录单元。


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