仪器厂商：Phoenix
仪器型号：Nanotom S
放置地点：5号楼113室
技术咨询：涂勇辉（025-86881520）
技术指标：细节检测能力：高达200nm；小焦测距：0.4毫米；体素分辨率：<500nm；几何放大倍率（3D）:1.5倍到100倍；电压：180 kv 功率：15 W
主要用途：用于样品断层扫描与样品的三维测量，可在不破坏样品完整性的前提下观察样品三维外观形态和内部结构，并实现观察结果的三维可视化呈现。同时可计算出样品的孔隙体积、表面积、孔隙长度、直径、连通性、分形维数、各向异性、孔隙的弯曲度等。
