X-Ray iffractormeter

仪器厂商：日本理学株式会社

仪器型号：Ultima IV

放置地点：2号楼128室

技术咨询：马作豪（025-86881520）

技术指标：一维半导体高速阵列探测器Detex-Ultra; X射线发生器功率为3KW；扫描方式：2 theta/theta 测角仪；扫描范围：0.5-159°；最小步进：0.0001°；角度重现性：<0.0001°。

主要用途：多晶X射线衍射仪主要应用于混合和单质物相的分析。测试样品通常为粉末。利用多晶样品对X射线的衍射效应，记录和分析X射线衍射谱图，可以对样品进行物相定性和半定量分析，测定晶胞参数、简单晶体的晶体结构、样品的结晶度、微晶的粒度、样品中的宏观和微观应力、织构等。仪器特点：采用垂直测角器，样品架平放，因此可对微少量样品进行测试。