Scanning Probe Microscopy / Atomic Force Microscopy

仪器型号：MultiMode 8

仪器厂商：德国布鲁克（Bruker）

放置地点：2号楼228室

技术咨询：涂勇辉（025-86881520）蒋倩（025-86881167）

技术指标：模式：智能、接触、轻敲、相位、横向力、力曲线、磁力、电势、峰值力轻敲；OMV-UNIV光学辅助系统：450倍放大，分辨率1.6 μm，彩色CCD摄像头；扫描管：(1) XY: 10 μm ×10 μm, Z : 2.5 μm; (2) XY: 40 μm ×40 μm, Z : 20μm闭环；(3)XY: 125 μm ×125 μm, Z : 5 μm

检测项目：在空气或液体中，扫描样品表面的二/三维形貌及测量（粗糙度、高度等），探测固相界面间的作用力（吸附力、模量等）。

主要应用：扫描土壤、矿物、岩石、有机物、高分子、生物体、金属等样品表面的二/三维形貌及测量（粗糙度、高度），探测固相界面间的作用力（吸附力、模量等）。

仪器原理：SPM是一类仪器的统称，是以STM和AFM 为代表的扫描力显微镜。当探针和样品接近到一定程度时，如果有一个足够灵敏且随探针-样品距离单调变化的物理量，那么该物理量可以用于反馈系统，通过扫描管的移动来控制探针-样品间的距离，进而描绘材料的表面性质。如PeakForce Tapping AFM, 采用2kHz的频率在整个表面做力曲线，利用峰值力做反馈，通过扫描管的移动来保持探针和样品间的峰值力恒定，从而反映出表面形貌。SPM主要部件：探针、扫描管、信号处理以及记录单元。